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電子器件是一個非常復雜的系統,其封裝過程的缺陷和失效也是非常復雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統性的了解,這樣才能從多個角度去分析缺陷產生的原因。?封裝的失效機理可以分為兩類:過應力和磨損。過應力失效往往是瞬時的、災難性的;磨損失效是長期的累積損壞,往往首先表示為性能退化,接著才是器件失效。失效的負載類型又可以分為機械、熱、電氣、輻射和化學負載等。?影響封裝
如何正確進行接觸電流(泄漏電流)能力驗證計劃試驗并提交結果?接觸電流(泄漏電流)能力驗證計劃試驗需要測試樣品A-L、A-N、B-L、B-N處的泄漏電流,并報出A-L端的泄漏電流,那么如何測試各個端點的泄漏電流并且報出正確的結果呢?圖例:泄漏電流測試盒觀點A:L-N端接入220V市電,并在通電后的任意時間內,利用泄漏電流儀測試各個端點的泄漏電流,并選擇L-A端的泄漏電流進行數據報出。觀點B:L-N端
檢驗檢測行業(yè)涉及產品質量控制、環(huán)境監(jiān)測、食品安全和工程建設等眾多事關國計民生的重要領域。隨著我國經濟的發(fā)展,建筑、食品、環(huán)保、機動車等領域發(fā)展*,對檢驗檢測的需求擴大,我國檢驗檢測行業(yè)得到了發(fā)展,行業(yè)規(guī)模不斷擴大,雖然傳統領域如建筑、機動車、食品等仍然占據較大比重,但是在新興領域如電子電器、軟件、醫(yī)學等領域的檢測規(guī)模*擴大,占比不斷提升。?檢驗檢測行業(yè)規(guī)模不斷擴大?驗檢測行
溫變測試溫變測試 溫度變化試驗,為設置一定的溫度變化速率進行高溫與低溫之間的轉變。在實際應用中有兩類:一類為慢速的溫度變化試驗,其溫度變化速率<3℃/min(一般各標準經常選擇參數為1℃/min),也既一般應用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變試驗(此三類為一種試驗);另一類為的溫度變化試驗,其溫度變化速率≥3℃/min,也既一般應用中的溫變試驗。溫度變化速率越快,考核越嚴酷。溫度變化試驗的特點:產
公司名: 深圳市訊科標準技術服務有限公司
聯系人: 蔡工
電 話: 0755-23727890
手 機: 13378656621
微 信: 13378656621
地 址: 廣東深圳寶安區(qū)深圳市寶安區(qū)航城街道九圍社區(qū)洲石路723號強榮東工業(yè)區(qū)E2棟華美電子廠2層
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