小家電EMC測試項目有哪些

時間：2019-11-07

作者：深圳市訊科標準技術服務有限公司

詞條
詞條說明
元器件封裝中的失效/可靠性問題，你又了解多少
電子器件是一個非常復雜的系統(tǒng)，其封裝過程的缺陷和失效也是非常復雜的。因此，研究封裝缺陷和失效需要對封裝過程有一個系統(tǒng)性的了解，這樣才能從多個角度去分析缺陷產生的原因。?封裝的失效機理可以分為兩類：過應力和磨損。過應力失效往往是瞬時的、災難性的；磨損失效是長期的累積損壞，往往首先表示為性能退化，接著才是器件失效。失效的負載類型又可以分為機械、熱、電氣、輻射和化學負載等。?影響封裝
非金屬夾雜物檢驗標準GB/T 10561—2005
1.1“與GB/T 10561—1989相比”部分?? ? ?GB/T 10561—2005前言中“本標準與GB/T 10561—1989相比主要變化如下：”部分存在以下問題。?01、“a) 標準名稱由《鋼中非金屬夾雜物的顯微評定方法》改為……”多了一個“的”字，實際GB/T 10561—1989標準名稱為《鋼中非金屬夾雜物顯微評定方法》。&nbs
最新產品環(huán)保法規(guī)標準動態(tài)
歐盟修訂食品接觸塑料法規(guī) (EU) No 10/2011?2020年9月3日，歐盟在其官方公報上公布法規(guī)(EU)No 2020/1245，對歐盟食品接觸塑料法規(guī)(EU) No 10/2011進行修訂和修正，涉及 (EU) No 10/2011 附件I、II、IV 和V 中的相關內容。主要對特殊遷移的變化，遷移實驗和重復使用的塑料制品的規(guī)定以及全面遷移條件等內容做了重要較新。法規(guī) (EU)
手機要做哪些高低溫試驗
按標準的規(guī)定，在手機的環(huán)境適應性測試項目中高低溫試驗包括：1)低溫測試，要求25±5℃，60±15%裸機，開機4h;2)高溫測試，要求溫度+55℃，試驗4h;3)熱沖擊試驗，裸機在關機的情況下，+85℃環(huán)境條件下45min，-40℃環(huán)境條件下試驗45min，兩溫度的轉換時間不大于15秒，進行27個循環(huán)，測試后放置至少兩個小時后進行開機檢測;4)溫度循環(huán)測試，裸機關機，70℃測試1h，40℃測試1h