LS160-2/LS160-2Ⅱ數(shù)字水平尺優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商

時(shí)間：2014-08-12作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：206

南昌星楓儀器有限公司專注于測(cè)距儀,涂層測(cè)厚儀,超聲波測(cè)厚儀,里氏硬度計(jì),測(cè)振儀等

• 詞條

  詞條說明

• 江西MC-2000A型涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

  一、概述 MC-2000A型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：0～1200um，是**的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代**同類儀器的**水平。 涂層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍： 本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂

• 元素分析儀的使用方法-星楓儀器

  電腦多元素分析儀的工作原理 談起國(guó)內(nèi)新型常用的綜合性多元素分析儀，當(dāng)下非電腦多元素分析儀莫屬。僅僅一臺(tái)儀器即可滿足鋼鐵及其合金材料（普碳鋼、低合金鋼、中合金鋼、高合金鋼、生鐵、灰鑄鐵、球墨鑄鐵、耐磨鑄鐵、鋁合金等）中的C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti、V、Al、W、Nb、Mg、稀土總量、Co等元素含量的檢測(cè)，儀器共設(shè)置有五個(gè)大通道（且可根據(jù)客戶需求設(shè)置成十個(gè)大通道），每個(gè)大通

• 金相分析儀操作方法-星楓儀器

  一、金相顯微鏡概述 在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域中，研究金屬材料微觀組織的方法很多，如金相，X光，電鏡以及其它物理方法等。其中金相分析方法，是延用已久的測(cè)試方法。由于所用設(shè)備簡(jiǎn)單，操作方便，直觀等優(yōu)點(diǎn)，特別是隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，各種新型、多用途顯微鏡的出現(xiàn)，擴(kuò)大了顯微分析的應(yīng)用范圍。時(shí)至今日金相分析仍是科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中的重要測(cè)試方法之一。對(duì)于從事金屬學(xué)和熱處理的工作人員，必須熟悉掌握這一技能。 二、金

• 漆膜厚度檢測(cè)的方法-漆膜測(cè)厚儀/涂層測(cè)厚儀

  如何使用漆膜測(cè)厚儀測(cè)量的準(zhǔn)確 基體金屬特性 對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否**過臨界厚度，無損檢測(cè)資源網(wǎng) 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。 邊緣效應(yīng) 不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。 曲率 不應(yīng)