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手持式光譜分析儀具有便攜,快速,無損耗的特性,適合各種合金含量分析。手持式光譜分析儀只需兩秒鐘的時間即可快速的實現(xiàn)不銹鋼牌號,含量的檢測。手持XRF不銹鋼分析儀是鍋爐、容器、管道、制造等高溫高壓行業(yè)對生產(chǎn)過程中進(jìn)行材料可靠性鑒別(PMI)的重要手段。在鋼鐵冶煉、有色金屬、航空航天、武器制造、潛艇船舶等軍、民國家重點(diǎn)工程行業(yè)的生產(chǎn)過程中對金屬材料進(jìn)行識別。在石化精煉、精細(xì)化工、制藥、電力電站、航空
光電直讀光譜儀的全譜分析技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍,可根據(jù)客戶需要選擇通道元素;分析速度快捷,20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料,通過設(shè)置預(yù)燃時間及標(biāo)線,使儀器用較短的時間達(dá)到較優(yōu)的分析效果; 金屬直讀光譜儀OES8000可測定包括痕量碳(C),磷(P),硫(S)元素,適用于多種金屬基體,如:鐵基,鋁基,銅基,鎳基,鉻基,鈦基,鎂基,鋅基,錫基和鉛基。 1、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室
利用X射線穿透被測材料時,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。針對檢測樣本的不同種類,可在下列3種型號中進(jìn)行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、**薄薄膜的型號,能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號,適合對陶瓷芯片電極部分中,過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測量的型號。 兼顧易
X射線測厚儀是檢測電鍍層厚度的儀器,通常x射線測厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠,五金廠,汽車零部件,PCB加工,電子連接件等行業(yè)。X射線測厚儀又叫膜厚儀,測膜儀,鍍層測試儀,x射線鍍層測厚儀,金屬測厚儀,xrf測厚儀,x-ray測厚儀,x熒光光譜鍍層測厚儀等。那么如何校正? 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測厚儀的正確方法,標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校
公司名: 蘇州百測檢測科技有限公司
聯(lián)系人: 孫經(jīng)理
電 話: 0512-36600406
手 機(jī): 15306138389
微 信: 15306138389
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號產(chǎn)業(yè)園
郵 編:
網(wǎng) 址: gcld88012007.cn.b2b168.com
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