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如何使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC板子焊接問題
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題,**是通過信號完整性分析和協(xié)議交互異常定位來反向推斷硬件連接缺陷。以下是具體操作步驟和關(guān)鍵方法:一、硬件連接與環(huán)境準(zhǔn)備1.?物理連接驗(yàn)證o?探針配置:將分析儀的差分探針(如SCLK、SDATA、GND)正確連接到PMIC和主處理器的SPMI引腳,確保探針與焊盤緊密接觸。若焊接存在虛焊,探針接觸不良可能導(dǎo)致信號丟失或誤判。o?電源與地
調(diào)試eMMC啟動失?。菏褂?PGY-SSM 捕獲和分析啟動數(shù)據(jù)
嵌入式系統(tǒng)依靠其eMMC存儲中的啟動序列來加載固件并將控制權(quán)移交給應(yīng)用程序代碼。然而,錯誤配置的分區(qū)、損壞的啟動數(shù)據(jù)或意外的?eMMC響應(yīng)可能會破壞此過程,導(dǎo)致難以使用標(biāo)準(zhǔn)工具診斷的靜默故障。 借助PGY-SSM SD/SDIO/eMMC 協(xié)議分析儀,您可以實(shí)時捕獲整個啟動交互,準(zhǔn)確查明問題所在,并可視化關(guān)鍵協(xié)議事件,而*中斷被測設(shè)備。為什么 eMMC 啟動失敗難以調(diào)試·低級通信:在掛
了解 I2C 通信中的時鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡化調(diào)試
了解 I2C 通信中的時鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡化調(diào)試?在現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)中,設(shè)備之間的高效通信至關(guān)重要,尤其是在使用I2C(內(nèi)部集成電路)等協(xié)議時。確保快速主服務(wù)器和較慢從服務(wù)器之間平滑數(shù)據(jù)傳輸?shù)年P(guān)鍵機(jī)制之一是 clock stretch。本博客探討了 clock stretching 的重要性、工程師面臨的挑戰(zhàn)以及 PGY-I2C-EX-PD 工具如何提供有效的解
PCIe 協(xié)議分析儀 PGY-PCIeGen3/4-PA 是Prodigy公司推出較新款的PCIe 協(xié)議分析儀,支持較高 PCIe Gen4 速度,輕松覆蓋2.5、5.0、8 和 16GT/s物理信號捕捉并譯碼,記錄數(shù)據(jù)事件軌跡和自動生成測試報告,滿足工程師研發(fā)和測試要求。此外,Prodigy提供在源端與終端間使用interposer方案,方便用戶焊接。 PCIe Gen4 協(xié)議分析儀的軟件支持傳
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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濱江LS-35LD 立式壓力蒸汽滅菌器數(shù)碼顯示自動型
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