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手持式光譜合金分析儀的檢測(cè)原理主要基于X射線熒光光譜法(XRF)。這種方法通過檢測(cè)樣品受到激發(fā)后產(chǎn)生的X射線,來確定樣品成分。首先,當(dāng)手提式光譜儀的檢測(cè)頭對(duì)準(zhǔn)樣品時(shí),通常使用X射線照射樣品。這個(gè)過程會(huì)激發(fā)出原子內(nèi)的一種或多種化學(xué)元素,這些元素在無外界干擾的情況下通常是穩(wěn)定的。然而,當(dāng)它們受到外界如X射線的照射時(shí),會(huì)產(chǎn)生額外的輻射,這就是X射線熒光。這種熒光的強(qiáng)度和頻率與元素的種類及含量有關(guān),因此可
蘇州鍍層測(cè)厚儀,作為表面質(zhì)量控制的精密工具,其原理主要基于多種物理效應(yīng),以滿足不同材質(zhì)與涂層的測(cè)量需求。其中,較為常見的測(cè)量原理包括射線透射法、磁感應(yīng)法及電渦流法。射線透射法,特別是X射線或γ射線技術(shù),利用射線穿透被測(cè)物體時(shí)強(qiáng)度的衰減來推算鍍層厚度。射線通過鍍層和基底材料時(shí),會(huì)因材料吸收能力的不同而發(fā)生不同程度的衰減,通過測(cè)量透射射線的強(qiáng)度變化,結(jié)合材料的吸收常數(shù),即可精確計(jì)算出鍍層厚度。此方法尤
上海電感耦合等離子體**光譜儀是一種用于測(cè)定物質(zhì)中多種元素含量的精密儀器,它的主要作用體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:1. **元素分析**:電感耦合等離子體**光譜儀的主要功能是對(duì)樣品中的各種元素進(jìn)行定量分析。通過測(cè)定元素的特征譜線,可以確定樣品中各種元素的含量。這為材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、藥學(xué)、農(nóng)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域提供了重要的分析工具。2. **質(zhì)量控制**:該儀器在實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用。通過定期
北京鍍層測(cè)厚儀的使用方法一、儀器簡(jiǎn)介北京鍍層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量金屬表面鍍層厚度的精密儀器,通常用于評(píng)估表面處理工藝的質(zhì)量和效果。它采用超聲波測(cè)厚原理,具有精度高、操作簡(jiǎn)便、易于攜帶等優(yōu)點(diǎn)。二、使用步驟1. 校準(zhǔn)儀器:使用前,請(qǐng)先對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。具體方法為:將已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)片放入測(cè)量探頭,調(diào)整儀器參數(shù),使顯示值等于標(biāo)準(zhǔn)片厚度,完成校準(zhǔn)。2. 準(zhǔn)備測(cè)量:將測(cè)量探頭接觸被測(cè)表面,調(diào)整探頭位置,使探頭與
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