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手持式X熒光分析儀的使用技巧一、了解設(shè)備在使用手持式X熒光分析儀之前,首先要了解設(shè)備的各項(xiàng)功能和操作方法。通常,此類設(shè)備具有多種模式,如分析模式、掃描模式、測量模式等。你需要熟悉每個(gè)模式的功能,以便在需要時(shí)能夠切換。二、準(zhǔn)備樣品選擇適合的樣品非常重要。確保你的樣品具有較高的熒光強(qiáng)度,并且易于破碎,以便設(shè)備可以輕松地獲取樣品中的元素。如果可能,使用已知的樣品進(jìn)行測試,以了解設(shè)備的準(zhǔn)確性和可靠性。
手持式XRF分析儀的檢測原理主要基于X射線熒光光譜分析(XRF)。XRF是利用元素**具有特征輻射的方式進(jìn)行物質(zhì)成分分析的技術(shù)。其工作原理為:當(dāng)一個(gè)元素被激發(fā)后,它會(huì)**一個(gè)或多個(gè)與元素特性相關(guān)的特定波長的電磁波,這些電磁波被稱為熒光。通過測量這些熒光的強(qiáng)度,可以確定被測元素在樣品中的含量。手持式XRF分析儀的工作流程大致如下:1. 激發(fā)源:手持式XRF分析儀使用X射線作為激發(fā)源。這些X射線通常由
江蘇鍍層測厚儀的原理主要是基于電導(dǎo)率測定、磁性原理和X射線熒光測厚等方法,下面將對這三個(gè)原理進(jìn)行簡要概述:1. 電導(dǎo)率測定原理:鍍層測厚儀基于電導(dǎo)率測量的原理來測定鍍層厚度。通過在待測鍍層表面施加微弱的交流電信號,儀器可以檢測鍍層表面電流的分布情況。電導(dǎo)率的改變與鍍層厚度有關(guān),因此通過測量電導(dǎo)率,可以推算出鍍層的厚度。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是測量精度高,但需要特定的信號發(fā)生器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),且對鍍層的均勻
ROHS分析儀使用方法一、概述ROHS分析儀是一種用于檢測電子設(shè)備中六種有害物質(zhì)(鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和鄰苯二甲酸酯)含量的儀器。這些物質(zhì)被限制在某些應(yīng)用中,因此正確使用和分析儀器的操作步驟非常重要。二、準(zhǔn)備工作1. 確認(rèn)儀器已充電完成:使用前確保儀器電池已充滿電。2. 準(zhǔn)備樣品:根據(jù)測試需求,選擇適合的樣品,如電路板、電子元器件等。3. 確認(rèn)測試參數(shù):根據(jù)ROHS分析儀的操作手冊,確認(rèn)所
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 柏自新
電 話:
手 機(jī): 15190185116
微 信: 15190185116
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: tianrui2022.b2b168.com
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