手持式光譜儀校正

時(shí)間：2018-09-22作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：411

蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專(zhuān)注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X射線測(cè)厚儀校正方法

  X射線測(cè)厚儀是檢測(cè)電鍍層厚度的儀器，通常x射線測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車(chē)零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測(cè)厚儀又叫膜厚儀，測(cè)膜儀，鍍層測(cè)試儀，x射線鍍層測(cè)厚儀，金屬測(cè)厚儀，xrf測(cè)厚儀，x-ray測(cè)厚儀，x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀等。那么如何校正？ 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測(cè)厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專(zhuān)業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校

• 環(huán)保測(cè)試儀介紹

  環(huán)保測(cè)試儀產(chǎn)品介紹 隨著歐盟ROHS環(huán)保指令的深入影響和環(huán)保發(fā)展趨勢(shì)越來(lái)越嚴(yán)格，X射線熒光環(huán)保測(cè)試儀在電子電器行業(yè)得到廣泛使用。儀器是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)環(huán)保測(cè)試儀的廠商，公司的EDX1800B是利用新一代X光管和高分辨率探測(cè)器，提供激發(fā)效率和測(cè)試精度。 環(huán)保測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)： 分析檢出限可達(dá)1ppm 分析含量一般為1ppm到99.99％ 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型 多變量非

• x射線熒光光譜儀測(cè)試方法

  能量色散X熒光光譜儀EDX 3600繼承了儀器EDX系列的準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器，可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測(cè)試結(jié)果完全符合標(biāo)準(zhǔn)GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》的要求。 下面以x射線熒光光譜儀測(cè)

• x射線測(cè)厚儀分析范圍

  x射線測(cè)厚儀分析范圍能夠?qū){米級(jí)金屬膜進(jìn)行分析，非接觸式測(cè)試，快速無(wú)損。x射線測(cè)厚儀可以多點(diǎn)連續(xù)分析測(cè)試，大大提高分析速度好效率。x射線熒光鍍層測(cè)厚儀提供上門(mén)安裝和儀器操作培訓(xùn)，品牌廠家，質(zhì)量保證。鍍層膜厚檢測(cè)：有效進(jìn)行鍍層厚度的產(chǎn)品質(zhì)量管控。電鍍液分析：精確檢測(cè)電鍍液成分及濃度，確保鍍層質(zhì)量。水質(zhì)在線監(jiān)測(cè)：有效監(jiān)測(cè)電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水中的有害物質(zhì)含量，已達(dá)到排放標(biāo)準(zhǔn)。RoHS有害元素檢測(cè)：為電