能量色散X熒光光譜儀簡介

時間：2023-09-08作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：108

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• 一六儀器研發(fā)的XAVU智能抽真空儀器有什么性能優(yōu)勢？

  XAVU是一款一機(jī)多用型X熒光光譜儀，搭載全新智能抽真空系統(tǒng),同時應(yīng)用了**的EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析，尤其是對S引、P、S、Al、Mg等輕元素有較佳的激發(fā)效果，大大提高了檢測效率。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和生產(chǎn)工藝控制的測量使用。接著就跟X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下吧。一六儀器研發(fā)團(tuán)隊，潛心研發(fā)、打造X

• x熒光光譜儀在考古發(fā)掘上的作用

  使用x熒光光譜儀來做考古發(fā)掘，文物及藝術(shù)品保護(hù)等領(lǐng)域已有幾十多年的歷史。使得這項非破壞性檢測技術(shù)在該領(lǐng)域得以充分發(fā)展。由于可應(yīng)用于現(xiàn)場的分析工作，X熒光光譜儀在可檢測的樣品上也有很好的拓展。接下來和一六儀器一起了解一下。元素分析對于藝術(shù)品鑒定及考古發(fā)掘的意義對于一些考古發(fā)掘出土物及歷史文物的來源及結(jié)構(gòu)鑒定首先需要了解它的元素組成。特別是在鑒別某些藝術(shù)品是真品還是偽造品時，元素分析往往具有重要意義。

• XRF鍍層測厚儀測試步驟及注意事項

  X射線測厚儀可以用來探測磁性金屬表面覆蓋的非磁性涂層厚度，測量準(zhǔn)度很高，使用靈活。接下來和一六儀器一起了解XRF鍍層測厚儀測試步驟及注意事項。XRF鍍層測厚儀測試步驟：1.儀器及附件均處開機(jī)狀態(tài)(電腦，顯示器);2.在程序庫中選中與產(chǎn)品對應(yīng)的曲線(產(chǎn)品需與曲線一致);3.打開儀器前蓋，臺面自動伸出;4.將樣品放入儀器臺面，測量大致位置對準(zhǔn)儀器紅外對焦點(diǎn);5.關(guān)閉儀器前蓋，儀器臺面自動歸位;6.在顯

• 測厚儀的檢測方法及測量注意事項

  測厚儀按照測量方式可分為接觸式和非接觸式。接觸式測厚儀通過儀器與樣品表面接觸測量，從而得知測量結(jié)果。而有些樣品的表面容易破壞不宜測量，則衍生出各種非接觸式測量方法，測厚儀的檢測方法及測量注意事項。1.涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以*地測量探頭