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詞條說明
原子吸收光譜分析(又稱原子吸光光度計(jì)分析)是光源輻射出待測元素的特征光波通過高溫樣品的蒸汽時,被蒸汽中待測元素的原子所吸收輻射光波強(qiáng)度減弱的程度求出樣品中待測元素的含量。原子吸收光譜的產(chǎn)生在于物質(zhì)的原子中電子按一定的軌道繞原子旋轉(zhuǎn),各個電子的運(yùn)動狀態(tài)是由4個**數(shù)來描述。不同**數(shù)的電子具有不同的能量,原子的能量為其所含電子能量的總和。原子處于完全游離狀態(tài)時,具有較低的能量稱為基態(tài)。在熱能、電能或
鍍層膜厚檢測技術(shù)的**要點(diǎn) 鍍層膜厚分析儀是工業(yè)生產(chǎn)中不可或缺的檢測工具,主要用于測量金屬或非金屬基材表面鍍層的厚度。其應(yīng)用范圍涵蓋電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域,確保產(chǎn)品質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。 鍍層膜厚分析儀的關(guān)鍵技術(shù)在于測量精度和適用性。常見的測量方法包括X射線熒光法、渦流法和超聲波法。X射線熒光法適用于多層鍍層測量,精度高但設(shè)備成本較高;渦流法適用于導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電鍍層,速度快但受基材影響較大;超聲波
原子吸收光譜儀AAS在地質(zhì)、冶金、機(jī)械、化工、農(nóng)業(yè)、食品、輕工、生物醫(yī)藥、環(huán)境保護(hù)、材料科學(xué)等各個領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。該法主要適用樣品中微量及痕量組分分析?;鸹ü庾V儀1.選擇性強(qiáng)由于原子吸收譜線僅發(fā)生在主線系,而且譜線很窄,線重疊幾率較**光譜要小得多,所以光譜干擾較小選擇性強(qiáng),而且光譜干擾*克服。在大多數(shù)情況下,共存元素不對原子吸收光譜分析產(chǎn)生干擾。由于選擇性強(qiáng),使得分析準(zhǔn)確快速。2.靈敏度高原
鍍層厚度測量:精準(zhǔn)把控表面工藝的關(guān)鍵 在工業(yè)制造和質(zhì)量檢測領(lǐng)域,鍍層厚度的精確測量直接影響產(chǎn)品的性能和壽命。無論是金屬鍍層、防腐涂層,還是裝飾性鍍膜,厚度是否達(dá)標(biāo)都至關(guān)重要。鍍層厚度分析儀作為**檢測工具,能夠高效完成這一任務(wù),確保工藝穩(wěn)定性和產(chǎn)品可靠性。 鍍層厚度分析儀的**技術(shù) 鍍層厚度分析儀主要采用X射線熒光(XRF)、渦流法和超聲波法等技術(shù)。XRF技術(shù)適用于多層鍍層和非金屬基材,測量精度高
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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ROHS測試儀器 ROHS10項(xiàng)檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進(jìn)行分析
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