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optodiode探測器常見問題及解決方法如下:美國optodiode探測器響應(yīng)時間太長(時間常數(shù)太慢),第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高(超過1mW/cm2),探測器材料將加熱到改變探測器特性的點。這種變化迫使探測器比最初進(jìn)行測量所需的時間更長,因為基本上探測器被重新敏化,這改變了探測器的光導(dǎo)特性。對探測器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個探測器表面積的比率。optodiode探測器
以色列Holoor生產(chǎn)的所有衍射光學(xué)元件(DOE)元件都在潔凈室環(huán)境下進(jìn)行DOE鏡片清潔和包裝。但是,在客戶現(xiàn)場使用或安裝過程中,產(chǎn)品可能會弄臟。請參見以下衍射光學(xué)元件清潔手冊清潔說明,并確保在嘗試DOE鏡片清潔之前遵循這些說明。注意:?Holoor的產(chǎn)品是以干凈和隨時可用的狀態(tài)交付。如果由于某種原因弄臟產(chǎn)品,請使用以下說明來進(jìn)行衍射光學(xué)元件清潔。此外,請注意,將弄臟的產(chǎn)品放入您的系統(tǒng)中
這篇文章主要介紹了的PHASICS公司的核心技術(shù)——波前測量。PHASICS提供所有級別的集成,從單一的波前傳感器到模塊,再到完整的系統(tǒng),無論是干涉儀還是完整的MTF站。在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù),這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來覆蓋從紫外線到遠(yuǎn)紅外線。四波橫向剪切干涉儀?(QWLSI)的原理當(dāng)待測波前經(jīng)過波前
K&S主動隔振臺在電子顯微鏡領(lǐng)域的應(yīng)用
電子顯微鏡Electronic Microscopes簡稱電鏡,用高能電子束以非常精細(xì)的尺度研究物體,已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具。為確保電子顯微鏡超高質(zhì)量成像,實現(xiàn)電子顯微鏡隔振,電子顯微鏡防震臺是必不可少的。傳統(tǒng)的隔振方法主要是建造專門的隔離地板,用特殊的混凝土塊改變地基,用混凝土塊進(jìn)行被動減震。這種方法的缺點相當(dāng)明顯,不可能改變工具的位置、機(jī)器停機(jī)時間長、沒有靈活性、沒有可配置性、
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
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電 話: 0755-84870203
手 機(jī): 18926463275
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