為什么選擇顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒分析儀

時(shí)間：2022-07-01作者：上海梓夢(mèng)科技有限公司瀏覽：216

上海梓夢(mèng)科技有限公司專注于顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀,不溶性微粒儀等

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• 顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀專用過濾裝置 ZM-G25

  ? ? ? 顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀**過濾裝置 ZM-G25? ? ?上海梓夢(mèng)科技型號(hào)ZM-G25顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒**過濾裝置，按照USP788、USP787、USP789，CP0903章節(jié)對(duì)不溶性微粒檢測(cè)法中*二法顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀、也叫顯微鏡法不溶性微粒儀，較早也有叫膜顯微鏡法不溶性微粒儀規(guī)定，用來加持25mm濾膜使用，對(duì)樣品

• 如何用粒度粒形分析儀檢測(cè)葉片病斑率情況

  隨著成像系統(tǒng)科技的不斷發(fā)展，粒度粒形分析儀得到了廣泛的應(yīng)用，從固體粉末藥物API原料藥粒度測(cè)試，到半固體乳膏液滴粒徑測(cè)試，擠出劑粒度大小的測(cè)定，再到葉片病斑面積的情況測(cè)試，粒度粒形分析儀在醫(yī)藥、**、鋰電、涂料、過濾行業(yè)、機(jī)械加工、農(nóng)業(yè)等各個(gè)行業(yè)的使用，無不證明在今天粒度粒形分析儀在科技發(fā)展中占據(jù)了一席之地。 粒度粒形分析儀根據(jù)其所采用的硬件可以分為顯微鏡法、掃描法、相機(jī)拍照法。本文主要介紹的是

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  納米粒度和zeta電位的測(cè)試方法有很多種，粒度可以采用動(dòng)態(tài)光散射原理、超聲波衰減法、電鏡等來做測(cè)試，zeta電位測(cè)試方法主要有相位分析光散射（PALS）法、電聲法、流動(dòng)電位法、顯微電泳法等。每種方法都有其各自的優(yōu)劣勢(shì)。今天就動(dòng)態(tài)光散射測(cè)試納米粒度和相位分析光散射（PALS）法測(cè)試zeta電位做個(gè)介紹。一、納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域：隨著科技的發(fā)展納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域很