詞條
詞條說(shuō)明
金屬的光譜分析法是指通過(guò)分析樣品的光譜特性來(lái)定量其中不同元素的含量。以較為**的直讀光譜儀為例,具體分析過(guò)程包括:1.通過(guò)電容火花放電的方式使被測(cè)金屬表面蒸發(fā)形成原子蒸汽,由于受到高能激發(fā),這些原子的核外電子會(huì)從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),由于激發(fā)態(tài)的電子處于不穩(wěn)態(tài),會(huì)躍遷回基態(tài),并放出光子,形成光源。2.不同的元素其發(fā)出的光子特征波長(zhǎng)不一樣。將光源的光通過(guò)分光系統(tǒng)分光后,由光電檢測(cè)器檢測(cè)各個(gè)元素特征波長(zhǎng)上
手持式光譜儀在使用的時(shí)候,對(duì)于環(huán)境是有一定的要求,不要在潮濕的環(huán)境下工作的,環(huán)境濕度0-95%之間為較好,不能在太高溫下操作工作,這樣的理由是避免各類磁場(chǎng)的干擾,如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出較精確的精度。所以,大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度,很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。一、手持式光譜儀對(duì)于操作人員也是要一定要求的,測(cè)試樣品**定要請(qǐng)儀器廠商的技術(shù)人員現(xiàn)場(chǎng)演示,并且對(duì)技術(shù)
人們常常把手持式光譜儀與火花直讀光譜儀混淆,實(shí)際上,兩個(gè)在原理上有本質(zhì)的不同。手持式光譜儀工作原理:當(dāng)一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內(nèi)層的電子上,這個(gè)X射線束是由手持式光譜儀內(nèi)的X射線管產(chǎn)生的,這個(gè)X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上,電子被激發(fā)后從原子殼內(nèi)層軌道發(fā)生位移,這種位移的發(fā)生是由于從分析儀發(fā)出的X-射線束與在適當(dāng)?shù)能壍辣3蛛娮咏Y(jié)合能發(fā)出的能量差;
在被測(cè)量的薄膜上垂直照射可視光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進(jìn)薄膜,然后在膜與底層之間的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。利用白光干涉測(cè)量法的原理,它用一個(gè)寬波段的光源來(lái)測(cè)得不同波長(zhǎng)的反射數(shù)據(jù),由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化,根據(jù)這一特性進(jìn)行曲線擬合從而求得膜厚。不同類型材料的相應(yīng)參數(shù)通過(guò)不同的模型來(lái)描述,從而保證了不同類型材料膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性。
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