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測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表?,F(xiàn)在應用比較廣泛的有激光測厚儀、在線測厚儀、鋰電池測厚儀。X射線測厚儀等等。其中X射線測厚儀爭議比較大,因為射線對人體是有輻射的,但是在工業(yè)上X射線又能給我們提供很大的便利。所以,我們使用x射線測厚儀如何保證安全呢?X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)
2020年7月3日,由艾邦智造主辦的《*二屆5G陶瓷介質濾波器高峰論壇》成功舉辦。在本次高峰論壇的展臺區(qū),江蘇天瑞儀器股份有限公司展出了5G陶瓷介質濾波器鍍銀層厚度的檢測設備,這款X熒光鍍層測厚儀采用X射線的方法檢測,據(jù)介紹,這款X熒光鍍層測厚儀在5G濾波器鍍銀層厚度的檢測領域較大的優(yōu)勢有兩點:1、測試速度快,一般測試時間為10S;2、無損檢測,*損壞樣品就可以檢測出銀層厚度。X熒光鍍層測厚儀T
2015年6月4日,歐盟在官方公報發(fā)布了指令 (EU) 2015/863,修訂了RoHS 2.0指令(2011/65/EU)中關于限制物質要求的附錄II,增加了四種鄰苯二甲酸酯類管控物質,即鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(DEHP) 、鄰苯二甲酸丁芐酯(BBP) 、鄰苯二甲酸二丁酯(DBP) 、鄰苯二甲酸二異丁酯(DIBP),并規(guī)定四種鄰苯二甲酸酯在均質材料中的含量不得**過0.1%。至此附錄II中
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關電子與控制部件,相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 劉經(jīng)理
電 話: 0512-57017007
手 機: 13338643566
微 信: 13338643566
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號天瑞產(chǎn)業(yè)園
郵 編:
網(wǎng) 址: zhang091179.cn.b2b168.com
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