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詞條說明
UV-A紫外輻照計(單通道) 該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。 主要性能指標: * 波長范圍及峰值波長 (二者擇其一) (1)UV-365探頭(光譜響應曲線見圖) λ:(320~400)nm; λP=365nm (2)UV-420探頭(光譜響應曲線見圖) λ:(375~475)nm; λP=420nm * 輻照度測量范圍
MRP系列可調式扭力扳手(帶舒適手柄)雙刻度,帶舒適手柄。 MRP系列可調式扭力扳手(帶舒適手柄)特點: 雙刻度,雙方向進行檢定。 彈簧鎖環(huán)保證正向鎖定。 快速準確,易于設置。 激光標記刻度,簡單易讀。 *特設計按鈕能快速卸下套筒。 人體工程學設計手柄。 精度:順時針±3%(20%~100量程),逆時針±5%。 符合或**過ASME B107.14-2004和ISO 6789標準。 可溯源至N.I
激光測距儀PRO1200測距范圍:18—1200m 測距誤差:±1m±0.1% 美國APRESYS測距望遠鏡PRO1200型 2 主要性能 2.1 測距范圍:18~1200m; 2.2 測距方式:半導體激光測距(對人眼無害); 2.3 測距誤差:±1m±0.1%; 2.4 測距顯示方式:視野內LCD顯示; 2.5 有效物鏡口徑:25mm; 2.6 膜系:多層鍍膜; 2.7 出瞳直徑: 3.6mm
如何使用漆膜測厚儀測量的準確 基體金屬特性 對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否**過臨界厚度,無損檢測資源網 如果沒有,可采用3.3中的某種方法進行校準。 邊緣效應 不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。 曲率 不應
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯(lián)系人: 黃經理
電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區(qū)南昌市青云譜區(qū)三點西路44號
郵 編: 330001
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