供應(yīng)MCT200涂層測(cè)厚儀檢定規(guī)程

時(shí)間：2015-02-04作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：90

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• 供應(yīng)AS931涂層測(cè)厚儀-鐵基型檢定規(guī)程

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• 江西LS702激光探測(cè)器新品上市

  LS702激光探測(cè)器技術(shù)規(guī)格： 探測(cè)距離：250m(半徑) 精 度：粗測(cè):±2mm; 精測(cè):±1mm 顯 示：雙面LCD顯示 電 池：1節(jié)9V電池 夾 持 器：快速夾持器 尺 寸：170 x 76 x 29mm 重 量：0.42kg

• 供應(yīng)UV755B紫外可見分光光度計(jì)檢定規(guī)程

  UV755B紫外可見分光光度計(jì) 該產(chǎn)品是微機(jī)控制的紫外可見近紅外光譜范圍的新一代普及型儀器。可滿足于科研、生化、環(huán)保、食品、化工及冶金等系統(tǒng)對(duì)各種物質(zhì)進(jìn)行定量分析，具有很高的性能價(jià)格比，是你理想的選擇。 UV755B紫外可見分光光度計(jì)特點(diǎn)： ● 采用微機(jī)系統(tǒng)。 ● 具有記憶儲(chǔ)存功能。 ● 提供斷電保護(hù)。 ● 數(shù)據(jù)一次輸入，*使用。 ● 備有標(biāo)準(zhǔn)打印機(jī)接口通訊口。 主要技術(shù)指標(biāo): ● 波長(zhǎng)范圍；