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手持金屬光譜分析儀是利用X射線熒光光譜的能量色散原理,通過X射線激發(fā)待測樣品的元素所產(chǎn)生的X熒光信號,被半導體探測器捕獲并收集分析得出元素含量的分析譜圖,再經(jīng)過現(xiàn)代計算機分析算法和技術得出準確的分析含量。手持金屬分析儀由江蘇省儀器股份有限公司專業(yè)生產(chǎn)手持金屬光譜分析儀器型號、技術參數(shù)和價格。explorer5000可檢測金屬元素含量,只需兩秒鐘的時間即可快速的實現(xiàn)不銹鋼牌號,含量的檢測。儀器
便攜式光譜分析儀采用小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測器(世界上較好的探測器)及微型數(shù)字信號多道處理器三大**技術的引入,大幅降低測試時間、提高檢測精度、減少測試誤差,使手持式儀器具有與臺式相近的測試性能。體積很小,便攜、方便野外工作。隨時隨地,隨心所欲的現(xiàn)場分析和原位分析。 無損檢測 整個檢測過程被測樣品無任何損壞 快速檢測 儀器既可手持1-2秒對樣品進行快速測試,也能使用座
XRF的優(yōu)點:a)?分析速度高。測定用時與測定精密度有關,但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b)?X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關,而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在**軟X射線范圍內(nèi),這種效應較為顯著。波長變化用于化學位的測定。c)
無損檢測之涂鍍層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測工件的,還有就是來自自然環(huán)境的影響,下面我們介紹一下排除這些故障的方法。 示值顯示不穩(wěn)定 導致涂鍍測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結構的特殊性,比如工件本身是否為導磁性材料,如果是導磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀,如果工件為導電體,我們就得選擇渦流涂鍍
公司名: 蘇州百測檢測科技有限公司
聯(lián)系人: 孫經(jīng)理
電 話: 0512-36600406
手 機: 15306138389
微 信: 15306138389
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號產(chǎn)業(yè)園
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網(wǎng) 址: gcld88012007.cn.b2b168.com
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