三綜合振動試驗機構(gòu)普及試驗箱的保養(yǎng)訣竅

時間：2019-08-11作者：廣東蘇試廣博測試技術(shù)有限公司瀏覽：309

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  詞條說明

• UV紫外線老化檢測機構(gòu)分析紫外線老化試驗的注意事項

  根據(jù)UV紫外線老化檢測機構(gòu)的闡述，紫外線老化試驗要注意的事項有： 1、設(shè)備運行過程中，一定要保持充足的水源 2、試驗階段應盡量減少開啟箱門的時間 3、非專職操作人員，不得隨意操作 4、設(shè)備出現(xiàn)自己無法排除故障時，請與廠家聯(lián)系 5、長時間停止使用后，如需再次使用，須仔細檢查水源、電源及各部件，確定無誤后再啟動設(shè)備 6、因紫外線輻射對人員（特別是眼睛）有強烈的危害，所以操作人員應盡量減少接觸紫外線（

• 碰撞試驗測試，碰撞試驗第三方檢測機構(gòu)

  碰撞測試定義： 碰撞，指在碰撞過程中多次出現(xiàn)經(jīng)常重復的沖擊。 特點是次數(shù)多、具有重復性、沖擊加速度較低、脈沖持續(xù)時間較長。 比如：船舶在海中行駛時所受的波浪撞擊、工件在制造過程中在臺案上的多次翻轉(zhuǎn)，貨物在汽車運輸過程中由于顛簸產(chǎn)生的相互碰撞等都是碰撞現(xiàn)象。 它用于評定運輸包裝件在運輸過程中、承受多次重復性機械碰撞的耐沖擊強度、以及包裝對內(nèi)裝物的保護能力，碰撞試驗既可作為單項試驗，也可以作為一系列

• 環(huán)境可靠性試驗檢測機構(gòu)淺析恒溫恒濕試驗箱產(chǎn)品滿足的試驗條件及標準

  恒溫恒濕試驗箱產(chǎn)品滿足試驗條件及執(zhí)行標準 5.1GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗*2部分試驗方法試驗A低溫 5.2GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗*2部分：試驗方法試驗B：高溫 5.3GJB150.3A－2009高溫試驗方法 5.4GJB150.4A－2009低溫試驗方法 5.5GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗*2

• 東莞第三方檢測機構(gòu)淺談電子元器件可靠性檢測項目

  物理特性測試項目 1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力：確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性：確定需要焊接的光電子器件引線