PCB電路板真空烘箱應用范圍

時間：2023-07-31

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
電子元器件主要的檢測項目
電子元器件主要有三類檢測項目：1.常規(guī)測試主要測試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等；根據(jù)元器件的規(guī)格書測試基本參數(shù)，如三極管，要測試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項目，部分出口產(chǎn)品還要測試RoHS。2.可靠性測試主要測試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗；根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書的要求測試器件的壽命及各種環(huán)境試驗，如三極管，要進行高溫試驗
電子元器件的恒定濕熱和交變濕熱對比
恒定濕熱試驗恒定濕熱試驗即溫度濕度試驗條件均不隨時間變化的濕熱試驗。產(chǎn)品之受潮作用主要由水蒸汽吸附、吸收及擴散三種物理現(xiàn)象引起，在測試產(chǎn)品使用場所環(huán)境溫度變化不大，產(chǎn)品表面不會產(chǎn)生凝露現(xiàn)象時可選擇恒定濕熱測試方法。恒定濕熱試驗常用的有高溫與高濕測試、雙85測試等。高溫度與高濕度同時作用，會加速金屬件腐蝕跟絕緣材料老化。對于半導體器件，要是水汽滲透進管芯，還將引起電參數(shù)變化。特別是兩種不同金屬材料的
光纖在高低溫測試中的變化
有試驗結(jié)果表明，在連續(xù)冷卻試驗中，光纖在-55℃以下，光纖的損耗增加，尤其是在-60℃以下，損耗更是顯著增加，不能滿足實際應用的需要。在連續(xù)升溫測試中（-70~-55℃）,光纖損耗均有所下降，這表明由于溫度下降而導致的光纖損耗是可逆的，隨著溫度的回升，損耗也會隨之下降。?1、光纖的溫度特性是指在高、低溫條件下對光纖損耗的影響。在低溫條件下光纖損耗增大，這是由于光纖涂覆層、套塑層和石英的膨
判斷電容器壽命與溫度的相關性—10度法則
容器的壽命是一般電子產(chǎn)品壽命的較低要求，在高低溫試驗箱、高溫老化房等實驗設備作高低溫試驗和老化試驗的過程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關系的一個基本的簡單原則。溫度是環(huán)境應力中經(jīng)常的參數(shù)，通過高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等試驗設備得以實現(xiàn)。材料、產(chǎn)品或者元器件在試驗箱中通過電熱管加熱產(chǎn)生溫升，或者高溫（比如70℃，甚至150℃等），或