詞條
詞條說(shuō)明
顯示器技術(shù)比較表: ? TFT PDP FED OELD或OLED LTPS LED ELD TN STN 英文全稱 Thin Film Transistor LCD Plasma Display Panel Field Emission Display Organic Electro- Luminescene Display Low Temperature Poly-Silicon
高低溫快溫變?cè)囼?yàn)箱/高低溫快速循環(huán)試驗(yàn)箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選(ESS)試驗(yàn)箱/快速升降溫試驗(yàn)機(jī)
高低溫快溫變?cè)囼?yàn)箱/高低溫快速循環(huán)試驗(yàn)箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選(ESS)試驗(yàn)箱/快速升降溫試驗(yàn)機(jī) KWGDS系列簡(jiǎn)介:本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品(整機(jī))、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)及溫度篩選(ESS)試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn),其散熱功率不能**過(guò)試驗(yàn)箱制冷量,因制冷量為動(dòng)態(tài)值,其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化,同時(shí),較高濕度也會(huì)因散熱
非飽和加速壽命試驗(yàn)箱(又名PCT加速老化試驗(yàn)機(jī))主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的:提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度、氣壓)與工作應(yīng)力(如:電壓、負(fù)荷等)加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的
太陽(yáng)能電池在環(huán)境測(cè)試中必須要進(jìn)行規(guī)范所提到的濕冷凍,溫度循環(huán)、濕熱、高低溫濕熱老化等試驗(yàn)。確認(rèn)太陽(yáng)能電池在試驗(yàn)過(guò)程中是否發(fā)生故障或是失效。透過(guò)開(kāi)路測(cè)試可以對(duì)太陽(yáng)能電池失效進(jìn)行判定。一、測(cè)試種類:一般檢查、點(diǎn)擊危險(xiǎn)、火災(zāi)危險(xiǎn)、機(jī)械應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力二、處理試驗(yàn):熱循環(huán)、濕冷凍試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、紫外線試驗(yàn)三、試驗(yàn)設(shè)備:恒溫恒濕試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱四、試驗(yàn)條件:1、試驗(yàn)條件:8
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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