光纖收發(fā)器高低溫測(cè)試

時(shí)間：2023-07-12作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：117

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 鋰離子電池的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么

  鋰離電池安全測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是針對(duì)處于開(kāi)發(fā)階段的鋰離子電池進(jìn)行測(cè)試，確保其符合**安全要求而制定的。這些鋰離子電池測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)由美國(guó)保xain商實(shí)驗(yàn)室 (UL)、日本標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì) (JSA) 等知ming**組織制定，因此得到**認(rèn)可。?對(duì)于鋰電池的安全測(cè)試，我們較常用的有以下6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)：?1. **電工**(IEC) 62133? ? IEC 62133 是測(cè)試二次電池和

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門(mén)用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè)：1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：85℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件：-40℃～85℃持續(xù)時(shí)間：200

• 高低溫快溫變?cè)囼?yàn)箱/高低溫快速循環(huán)試驗(yàn)箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選（ESS）試驗(yàn)箱/快速升降溫試驗(yàn)機(jī)

  高低溫快溫變?cè)囼?yàn)箱/高低溫快速循環(huán)試驗(yàn)箱/高溫、低溫、高低溫循環(huán)箱/溫度篩選（ESS）試驗(yàn)箱/快速升降溫試驗(yàn)機(jī) KWGDS系列簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)及溫度篩選（ESS）試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)，其散熱功率不能**過(guò)試驗(yàn)箱制冷量，因制冷量為動(dòng)態(tài)值，其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化，同時(shí)，較高濕度也會(huì)因散熱

• 烘箱安全使用與注意事項(xiàng)

  1. 嚴(yán)禁將易燃、易爆、易揮發(fā)性物品置與箱中烘烤，以免發(fā)生爆炸事故。2. 工作室的感溫探頭請(qǐng)勿碰撞，以免失去控溫作用。3. 烘箱應(yīng)由*人員操作，嚴(yán)禁無(wú)人監(jiān)管運(yùn)行。4. 烘箱周?chē)?2 米范圍內(nèi)不得放置或堆積任何易燃、易爆、易揮發(fā)性物品，如：汽油、紙類、二甲苯、稀釋劑等。5. 工作室風(fēng)板孔、箱體進(jìn)氣孔、排氣孔不可堵塞，箱內(nèi)物品不宜放置過(guò)擠，以免影響熱風(fēng)循環(huán)，造成溫度不均或發(fā)生其他不安全隱患。6. 烘