高低溫試驗(yàn)箱出廠計(jì)量方法

時(shí)間：2023-07-03作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：82

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 集成電路IC卡高溫測(cè)試

  在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過(guò)高低溫測(cè)試的，來(lái)測(cè)試其在高低溫環(huán)境下的性能，集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，以此來(lái)對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬，集成電路高低溫測(cè)試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路**高低溫測(cè)試機(jī)，來(lái)協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、老化測(cè)試等測(cè)試。芯片的高/低溫度測(cè)試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達(dá)到±1℃

• 車載屏幕高低溫試驗(yàn)測(cè)試條件及標(biāo)準(zhǔn)

  一、高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 、IEIA 364、MIL-STD-810F等。?二、低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、

• geng換電池高低溫試驗(yàn)箱壓縮機(jī)的步驟

  壓縮機(jī)是電池高低溫試驗(yàn)箱的心臟，因?yàn)樵谠O(shè)備制冷環(huán)節(jié)中起到了很關(guān)鍵的作用，也是成本較高的零部件，一旦該配件出現(xiàn)故障會(huì)直接導(dǎo)致設(shè)備不能正常運(yùn)行，設(shè)備會(huì)有相應(yīng)的保護(hù)機(jī)制，但是長(zhǎng)時(shí)間使用難免會(huì)出現(xiàn)一些問(wèn)題，今天我們講講當(dāng)電池高低溫試驗(yàn)箱的壓縮機(jī)出行了損壞，該如何處理。 電池高低溫試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)中的制冷壓縮機(jī)損壞之后不能直接更換新壓縮機(jī)，是因?yàn)橄到y(tǒng)中可能存在一些導(dǎo)致制冷壓縮機(jī)損壞的誘因，一定要在這個(gè)誘因全部

• 溫度循環(huán)應(yīng)力篩選

  溫度循環(huán)應(yīng)力篩選 應(yīng)力篩選(Environmental Stress Screening，簡(jiǎn)稱ESS)說(shuō)明： ?????應(yīng)力篩選是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用加速技巧外加環(huán)境應(yīng)力，如：預(yù)燒(burn in)、溫度循環(huán)(temperature cycling)、隨機(jī)振動(dòng)(random vibration)、開(kāi)閉循環(huán)(power cycle)..等方法