新能源汽車驅(qū)動(dòng)用二次鋰電芯IEC62660標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間：2023-06-21作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：106

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 高低溫濕熱低氣壓試驗(yàn)箱

  高低溫濕熱低氣壓試驗(yàn)箱 ? 氣壓降低會(huì)使許多產(chǎn)品性能受到影響。氣壓變化產(chǎn)生的壓差作用會(huì)使密封產(chǎn)品損壞；同時(shí)氣壓降低會(huì)增加散熱產(chǎn)品的溫升，導(dǎo)致產(chǎn)品的性能下降或運(yùn)行不穩(wěn)定等現(xiàn)象出現(xiàn)。高溫低氣壓條件也會(huì)使空氣介電強(qiáng)度顯著降低，從而使電弧、表面放電或電暈放電的危險(xiǎn)性增加，導(dǎo)致設(shè)備的正常工作狀態(tài)被破壞。因此，高海拔、航空運(yùn)輸及儲(chǔ)藏評(píng)價(jià)試驗(yàn)中得到應(yīng)用。特別是機(jī)載、信息、電子等領(lǐng)域，用于確定材料、部

• 集成電路IC卡高溫測試

  在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測試的，來測試其在高低溫環(huán)境下的性能，集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進(jìn)行環(huán)境測試，以此來對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬，集成電路高低溫測試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路**高低溫測試機(jī)，來協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測試、冷熱沖擊測試、老化測試等測試。芯片的高/低溫度測試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達(dá)到±1℃

• 關(guān)于冷熱沖擊箱的一些知識(shí)點(diǎn)

  宏展儀器的冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備規(guī)格系列齊全,分為提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式，適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐冷試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)箱，而且特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)。設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容，高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)確保了設(shè)備的可靠性。冷熱沖擊箱的工作室材料為SUS304不銹鋼，抗腐蝕、

• 非飽和加速壽命試驗(yàn)箱

  非飽和加速壽命試驗(yàn)箱（又名PCT加速老化試驗(yàn)機(jī)）主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的：提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度、氣壓）與工作應(yīng)力（如：電壓、負(fù)荷等）加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的