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Artec 3D掃描儀全新計(jì)量套件竟那么強(qiáng)大
Artec 3D掃描儀計(jì)量套件共有兩個(gè)版本,專業(yè)版和入門(mén)版,為用戶帶來(lái)操作簡(jiǎn)單、適用范圍廣泛的攝影測(cè)量解決方案,還可享受計(jì)量級(jí)精度和高水平有效度,非常適合質(zhì)檢和逆向工程。 Artec 3D掃描儀計(jì)量套件可作為光學(xué)測(cè)量解決方案獨(dú)立使用,也可為遠(yuǎn)距三維掃描提供參照。套件方便攜帶,能在15分鐘內(nèi)生成高度有效的測(cè)量值,還能采集運(yùn)動(dòng)中的物體,無(wú)論是否為現(xiàn)場(chǎng)掃描,都能輕松應(yīng)對(duì)。 計(jì)量套件同時(shí)獲得DAkkS和V
Trimble X7的高度自動(dòng)化功能使其較接近于一個(gè)“協(xié)作機(jī)器人”。在得到關(guān)鍵信息的輸入和引導(dǎo)后,X7將自主運(yùn)行。那么三維掃描儀高度自動(dòng)化功能你了解嗎?下面就帶大家一起來(lái)看一下吧!1、自動(dòng)精細(xì)整平在小于2°的狹窄范圍內(nèi),傳統(tǒng)掃描儀很難甚至無(wú)法獲得測(cè)量級(jí)精度的整平指標(biāo)。這是一個(gè)引發(fā)數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的常見(jiàn)原因,而使用三腳架進(jìn)行整平非常耗時(shí),并且需要由有經(jīng)驗(yàn)的人來(lái)操作。X7擁有較廣的±10°補(bǔ)償范圍,*過(guò)硬的
三維掃描儀的制作并非仰賴單一技術(shù),各種不同的重建技術(shù)都有其優(yōu)缺點(diǎn),成本與售價(jià)也有高低之分。并無(wú)一體通用之重建技術(shù),儀器與方法往往受限于物體的表面特性。例如光學(xué)技術(shù)不易處理閃亮(高反照率)、鏡面或半透明的表面,而激光技術(shù)不適用于脆弱或易變質(zhì)的表面。三維掃描儀的應(yīng)用范圍:1、逆向工程:掃描實(shí)物,逆向設(shè)計(jì),建立模型,建立可使用的物體表面的三維數(shù)據(jù);2、產(chǎn)品檢測(cè):通過(guò)掃描合格產(chǎn)品得出數(shù)據(jù),與實(shí)物進(jìn)行多個(gè)數(shù)
Artec Leo設(shè)備是機(jī)載自動(dòng)3D處理功能的3D掃描儀,可在掃描物體時(shí),看到Leo觸屏面板上實(shí)時(shí)生成的3D數(shù)據(jù)。省略了前期多項(xiàng)準(zhǔn)備工作,而且不需要攜帶電腦、電線插線板等輔件。增加了掃描的穩(wěn)定性,提高了掃描效率。那么Artec Leo 3D掃描儀特點(diǎn)都有哪些呢?下面就帶大家來(lái)一起看一下吧! 隨著掃描捕捉算法促使掃描技術(shù)精度的不斷提高,三維激光掃描技術(shù)也得到了不斷的發(fā)展和豐富。在日益增長(zhǎng)的復(fù)雜需求和
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