X光鍍層測厚儀采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測厚

時間：2022-06-11作者：蘇州實譜儀器有限公司瀏覽：238

蘇州實譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測儀器等

• 詞條

  詞條說明

• x射線鍍層測厚儀在檢測時具有什么原理？

  ? ? ?x射線鍍層測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測厚儀的主要測量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中**種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多

• X光鍍層測厚儀詳細(xì)分析功能說明

  ? ? ?X光鍍層測厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,*購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.? ? ?

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測定。? ? ? x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號

• 有關(guān)x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，以下有詳細(xì)解說

  ? ? ? x射線鍍層測厚儀采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示，具備機(jī)型小巧、操作簡捷、待機(jī)時間長等特點；且具有自動關(guān)機(jī)、欠電指示、統(tǒng)計、系統(tǒng)/零點/兩點校準(zhǔn)功能。它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成如下： 1、