X熒光光譜儀在礦場(chǎng)中的應(yīng)用詳解

時(shí)間：2023-11-14作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：57

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• 關(guān)于能量色散型X熒光光譜儀的三大優(yōu)點(diǎn)詳解

  關(guān)于能量色散X熒光光譜儀結(jié)構(gòu)部位，一般是由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元由高壓發(fā)生器和X光管組成，它的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。而色散單元由樣品室、狹縫、測(cè)角儀、分析晶體等部分組成，它的作用是分出想要波長(zhǎng)的X射線。那么能量色散型X熒光光譜儀的三大優(yōu)點(diǎn)是什么呢？靈活——無論是工業(yè)生產(chǎn)控制還是深入的材料研究，均可根據(jù)單獨(dú)的帶藥求進(jìn)行定制。**知物相鑒定和混合物定量，到諸如殘余應(yīng)力和晶

• 具體材料具體分析 臺(tái)式X熒光光譜儀的材料分析檢測(cè)法詳解

  臺(tái)式X熒光光譜儀因?yàn)樗奶赜刑攸c(diǎn)，所以可以無損檢測(cè)多種材料，具體材料具體分析，下面我們來了解一下X熒光光譜儀檢測(cè)幾種金屬合金材料和非金屬材料的檢測(cè)方法。生鐵的分析檢測(cè)，生鐵中的碳是以元素狀態(tài)存在，灰口鐵中的碳有的呈球狀石墨，有的呈片狀石墨，在研磨過程中表面上脫落的石墨孔也會(huì)引起其他分析元素的污染，造成分析錯(cuò)誤。澆鑄的試樣是不均勻的，不適合作X射線熒光分析。而急冷試樣的晶粒很細(xì)，分布，碳生成滲碳體（

• 手持式光譜儀在礦石分析中的應(yīng)用

  眾所周知，手持式光譜儀在礦石分析中發(fā)揮了重要的作用。它基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，能夠快速、準(zhǔn)確地分析礦石中各種元素的含量。下面小編就來給大家介紹下手持式光譜儀在礦石分析中是如何應(yīng)用的。首先，礦石樣本需要被送至實(shí)驗(yàn)室或現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)點(diǎn)，并由專業(yè)人員使用手持式光譜儀進(jìn)行檢測(cè)。在檢測(cè)過程中，專業(yè)人員需要將礦石樣本放置在光譜儀的激發(fā)臺(tái)上，然后通過儀器對(duì)樣本進(jìn)行X射線的照射。當(dāng)X射線與礦石樣本中的原子相互作用時(shí)

• 哪些鍍層可以用臺(tái)式X熒光光譜儀分析？

  現(xiàn)代科技的迅速發(fā)展，也促進(jìn)了X熒光光譜儀的提升和進(jìn)步。臺(tái)式X熒光光譜儀運(yùn)用到的X射線熒光法，一直是元素分析的重要方法。它可以應(yīng)用在樣品涂鍍層厚度及成分分析，而且十分受生產(chǎn)廠家的喜愛。今天就跟著創(chuàng)想小編來了解一下吧。臺(tái)式X熒光光譜儀可用于分析多種鍍層，包括但不限于：貴金屬、珠寶首飾中的黃金、鉑金等鍍層。鋼鐵、五金電鍍中的鍍鋅、鍍鉻、鍍鈦等鍍層。電子電器中PCB印刷電路板、金手指及連接器上的Au/Ni