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原子吸收光譜儀由以下四部分組成1.光源系統(tǒng):空心陰極燈2.原子化系統(tǒng):火焰原子化器;石墨爐原子化器或氫化物發(fā)生器。3.分光系統(tǒng):單色器4.檢測系統(tǒng):光電倍增管等一、光源系統(tǒng):原子吸收光源應(yīng)滿足以下條件1.能輻射出半寬度比吸收線半寬度還窄的譜線,并且**線的中心頻率應(yīng)與吸收線的中心頻率相同。2.輻射的強(qiáng)度應(yīng)足夠大。3.輻射光的強(qiáng)度要穩(wěn)定,且背景小。原子化器是將樣品中的待測組份轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子的裝置。二
X射線測厚儀:工業(yè)測量的精準(zhǔn)之眼在現(xiàn)代化工業(yè)生產(chǎn)線上,X射線測厚儀以其非接觸式測量優(yōu)勢成為不可或缺的精密儀器。這種設(shè)備利用X射線穿透物質(zhì)時的衰減特性,能夠快速準(zhǔn)確地測量金屬、塑料、紙張等材料的厚度,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供了可靠**。X射線測厚儀的**原理基于比爾-朗伯定律,當(dāng)X射線穿過被測材料時,其強(qiáng)度會隨材料厚度增加呈指數(shù)衰減。儀器通過檢測穿透后的X射線強(qiáng)度變化,經(jīng)過精密計算得出材料厚度值。這一過
電鍍膜厚測量:工業(yè)品質(zhì)的"隱形守護(hù)者"在精密制造領(lǐng)域,電鍍膜厚測量技術(shù)猶如一位無聲的*官。這種看似簡單的測量過程,實則是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。測量精度直接決定了鍍層是否達(dá)標(biāo),影響著產(chǎn)品的耐腐蝕性、導(dǎo)電性和外觀品質(zhì)。現(xiàn)代電鍍膜厚儀主要采用X射線熒光和渦流兩種測量原理。X射線熒光法通過分析鍍層元素特征X射線來測定厚度,適用于多層鍍膜測量;渦流法則利用電磁感應(yīng)原理,特別適合導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電鍍層測
電鍍測厚儀的關(guān)鍵技術(shù)與選購要點 電鍍測厚儀是表面處理行業(yè)的重要檢測設(shè)備,主要用于測量金屬鍍層的厚度,確保產(chǎn)品質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。其**技術(shù)包括X射線熒光法、渦流法和超聲波法,不同的測量原理適用于不同的鍍層材料和基材。 X射線熒光法適用于測量金屬鍍層,如金、銀、鎳、鉻等,尤其適合多層鍍層的精確測量。渦流法則常用于非磁性金屬基材上的絕緣涂層或陽極氧化層測量。超聲波法在測量較厚的非金屬涂層時較具優(yōu)勢,如油漆
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 張先生
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