X原子熒光和原子吸收光譜儀的區(qū)別

時間：2023-07-01作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：119

江蘇天瑞儀器股份有限公司專注于手持式光譜儀,手持式合金分析儀,重金屬檢測儀,直讀光譜儀,VOC檢測儀,合金分析儀,元素分析儀,紫外光譜儀,原子吸收光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• 原子吸收光譜儀的基礎(chǔ)原理

  原子吸收光譜分析(又稱原子吸光光度計分析)是光源輻射出待測元素的特征光波通過高溫樣品的蒸汽時，被蒸汽中待測元素的原子所吸收輻射光波強(qiáng)度減弱的程度求出樣品中待測元素的含量。原子吸收光譜的產(chǎn)生在于物質(zhì)的原子中電子按一定的軌道繞原子旋轉(zhuǎn)，各個電子的運(yùn)動狀態(tài)是由4個**數(shù)來描述。不同**數(shù)的電子具有不同的能量，原子的能量為其所含電子能量的總和。原子處于完全游離狀態(tài)時，具有較低的能量稱為基態(tài)。在熱能、電能或

• 浙江膜厚儀廠家

  膜厚測量儀器的關(guān)鍵指標(biāo)與選購要點(diǎn)膜厚測量作為現(xiàn)代工業(yè)中*的檢測環(huán)節(jié)，其精度和可靠性直接影響產(chǎn)品質(zhì)量。在眾多測量技術(shù)中，光學(xué)干涉法和X射線熒光法因其非接觸特性備受青睞。這兩種方法各具特色，能夠滿足不同場景下的測量需求。光學(xué)干涉儀利用光的干涉原理，通過分析干涉條紋間距計算膜層厚度。這種方法對透明和半透明薄膜特別有效，測量精度可達(dá)納米級。其優(yōu)勢在于測量過程不損傷樣品，且能實(shí)現(xiàn)快速檢測。但需要注意

• 原子吸收光譜儀由什么組成？

  原子吸收光譜儀由以下四部分組成1.光源系統(tǒng):空心陰極燈2.原子化系統(tǒng):火焰原子化器;石墨爐原子化器或氫化物發(fā)生器。3.分光系統(tǒng)：單色器4.檢測系統(tǒng)：光電倍增管等一、光源系統(tǒng):原子吸收光源應(yīng)滿足以下條件1.能輻射出半寬度比吸收線半寬度還窄的譜線，并且**線的中心頻率應(yīng)與吸收線的中心頻率相同。2.輻射的強(qiáng)度應(yīng)足夠大。3.輻射光的強(qiáng)度要穩(wěn)定，且背景小。原子化器是將樣品中的待測組份轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子的裝置。二

• 鍍層膜厚分析儀

  鍍層膜厚分析儀：精準(zhǔn)測量的秘密武器 在工業(yè)生產(chǎn)與質(zhì)量檢測中，鍍層膜厚直接影響產(chǎn)品的性能和壽命。無論是金屬鍍層、涂層還是薄膜材料，精確測量其厚度至關(guān)重要。鍍層膜厚分析儀正是為此而生，它的高精度與高效性使其成為制造業(yè)和科研領(lǐng)域的**工具。 鍍層膜厚分析儀的**技術(shù)在于非破壞性測量。通過X射線熒光（XRF）或渦流檢測原理，儀器能在不損傷樣品的情況下快速得出數(shù)據(jù)。XRF技術(shù)適用于多種金屬鍍層，尤其擅長分析