高低溫試驗設備怎樣正確替換濕球紗布

時間：2022-10-11作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：102

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• 詞條

  詞條說明

• 恒溫恒濕試驗箱報警要注意了！

  【報警的原因是什么？】一、制冷系統(tǒng)發(fā)生異常1.壓縮機**壓報警。在制冷劑壓力**過設定值時，設備會停止工作并報警，報警后需要技術人員排查故障原因，確認原因后手動進行復位。2.壓縮機過熱報警。當壓縮機的線圈過熱、線路的供電異常的時候，設備會停機報警。3.循環(huán)冷卻水缺水報警。當冷卻循環(huán)水系統(tǒng)的水不足時，設備會停機并報警，這時就需要手動加足水量并且復位，復位后設備才可正常運行。4.電源缺相，相序報警。當設備

• 淺析恒溫恒濕試驗箱均勻度偏差的原因

  一切一臺自然環(huán)境實驗設備,包含恒溫恒濕試驗箱所出示的自然環(huán)境標準，務必是可觀察的和可操縱的,這不但是為了較好地使空氣質量參數限定，在一定的容時容差范疇以內,確保實驗標準的重現性和可重復性的規(guī)定,并且從商品實驗的安全性考慮也是務必的,便于避免自然環(huán)境標準無法控制造成被試商品的毀壞,產生多余的損害?，F階段各種各樣試驗箱實驗標準中，大致規(guī)定主要參數檢測的精密度不可小于實驗標準容許的，誤差的三分之一。溫度

• 半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項

  半導體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業(yè)經常能用到的測試，用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。在做半導體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：1.做半導體芯片高低溫測試時需要用

• 冷熱沖擊試驗設備-----關于除霜

  冷熱沖擊試驗設備-----關于除霜? 冷熱沖擊設備為什么要除霜呢？?? ??????首先我們來看霜是什么，它長在什么地方。霜是空氣中的水遇冷后瞬間*冷卻結晶的結果，霜就是小冰晶，霜結厚了就很*變成厚厚的冰。冷熱沖擊箱中的霜是長在預冷區(qū)的蓄能組件上的。? ???&nb