詞條
詞條說明
高低溫環(huán)境測(cè)試可以稱為作高低溫循環(huán)測(cè)試,是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試的其中一項(xiàng)。高低溫循環(huán)測(cè)試可以測(cè)試產(chǎn)品在不用高低溫氣候環(huán)境下的可靠性和耐力,目的是用來制定產(chǎn)品在不同高低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性方法。高低溫循環(huán)測(cè)試根據(jù)測(cè)試樣品不同,適用條件、范圍不同,其測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)也都不一樣。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于試驗(yàn)所用的溫度范圍和持續(xù)暴露的時(shí)間。隨著現(xiàn)代工業(yè)飛速發(fā)展和較新?lián)Q代,環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中的高低溫測(cè)試設(shè)
宏展科技ISO14001環(huán)境管理體系認(rèn)證證書
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半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測(cè)試,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測(cè)出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理損傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試需要特別注意,在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試箱,主要原因如下:1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試時(shí)需要用
近日哈爾濱工業(yè)大學(xué)再次向北京宏展儀器有限公司訂購高低溫試驗(yàn)箱,雙方緊密合作,共筑工程師的搖籃!?哈爾濱工業(yè)大學(xué)(Harbin Institute of Technology),簡(jiǎn)稱哈工大, 校本部位于黑龍江省哈爾濱市,是由工業(yè)和信息化部直屬的國內(nèi)重dian大學(xué),位列g(shù)uojia“雙**”、 “985工程”、“211工程”,九校聯(lián)盟? 、環(huán)太平洋大學(xué)聯(lián)盟、zhongguo大學(xué)校長(zhǎng)
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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