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詞條說明
X熒光光譜儀根據(jù)用途和設(shè)計針對性有很多俗稱:如X熒光測厚儀、X-ray膜厚儀、光譜測厚儀等,隨著技術(shù)的不斷發(fā)展進(jìn)步,X熒光光譜儀在非常多的領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用,對于企業(yè)發(fā)展提供了很大的助力,很多人在購買X熒光光譜儀的時候不知道看什么,實際上X熒光光譜儀性能評估需要注意三要素,今天跟著X熒光光譜儀廠家來了解一下吧。1.較小測量面積:性能好的儀器較小測量直徑可以到0.1mm以下。2.可測樣品形狀的復(fù)
江西多導(dǎo)毛細(xì)聚焦XRF在不同領(lǐng)域主要測試哪些?
多導(dǎo)毛細(xì)聚焦XRF儀器廠家*創(chuàng)的集成光路系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,搭配多導(dǎo)毛細(xì)管 實現(xiàn)較小面積或較薄鍍層的高速、精確、穩(wěn)定的測量,聚焦直徑可小至10μm下面和一六儀器一起了解多導(dǎo)毛細(xì)聚焦XRF在不同領(lǐng)域主要測試。多導(dǎo)毛細(xì)聚焦XRF性能優(yōu)勢:測量精度較高:新開發(fā)的*特的光學(xué)器件和**良好的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)可對**微小區(qū)域及納米級薄層高精度測量;**微小樣品檢測:精確測試較小測量點直徑可達(dá)10μm,**測量微點技術(shù)的領(lǐng)
上照式x熒光光譜儀有哪些你不知道的產(chǎn)品細(xì)節(jié)?使用注意事項
XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了**測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現(xiàn)XYZ軸編程位移,實現(xiàn)**多點測量,測量軟件置入**的EFP算法及解譜技術(shù),解決了諸多業(yè)界難題。全元素上照式x熒光光譜儀被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。上照式x熒光光譜儀產(chǎn)品細(xì)節(jié):高精密移動裝置快速精準(zhǔn)定位;自動
市面上常見的材料成分厚度測試的方法有:金相顯微鏡法、庫倫法、磁性法、電渦流法、X光射線法等。這些方法都有自己的特點和優(yōu)勢。金相顯微鏡法耗費時間長和庫倫法一樣都屬于破壞性測試,磁性法和電渦流法的應(yīng)用范圍窄,那X光射線法有什么特點呢?今天就跟著X射線熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來說一說吧。X光射線法的測試原理:X射線射到電鍍層表面,產(chǎn)生X射線熒光,根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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