詞條
詞條說(shuō)明
探測(cè)器 依分辨率高低檔次由低**常用的探測(cè)器有NaI晶體閃爍計(jì)數(shù)器,充氣(He,Ne,Ar,Kr,Xe等)正比計(jì)數(shù)管器、HgI2晶體的探測(cè)器、半導(dǎo)體致冷SiPIN探測(cè)器、高純硅晶體的探測(cè)器、高純鍺晶體的探測(cè)器、電致冷或著液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體的探測(cè)器、Ge(Li)鋰漂移鍺探測(cè)器等。 目前常用的是電致冷或液氮致冷Si(Li)鋰漂移硅晶體的探測(cè)器、SiPIN探測(cè)器、高純的硅晶體探測(cè)器。探測(cè)器
【三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x】日常的保養(yǎng)
改變管理方式防止”假期綜合癥”?三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的組成比較復(fù)雜,主要**械部件、電氣控制部件、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成。平時(shí)我們?cè)谑褂萌鴺?biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量工件的同時(shí),也要注意機(jī)器的保養(yǎng),以延長(zhǎng)機(jī)器的使用壽命。下面我們從三個(gè)方面說(shuō)明三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的基本保養(yǎng)。機(jī)械部件三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的機(jī)械部件有多種,我們需要日常保養(yǎng)的是傳動(dòng)系統(tǒng)和氣路系統(tǒng)的部件,保養(yǎng)的頻率應(yīng)該根據(jù)測(cè)量機(jī)所處的環(huán)境決定。一般在環(huán)境比較好的精測(cè)間中的測(cè)
學(xué)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x一般多久
學(xué)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x一般多久一般情況下,入門級(jí)別的學(xué)習(xí)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x還是比較好學(xué)的。大概需要1--2個(gè)月時(shí)間,基本就可以上手了,但如果深入及系統(tǒng)的學(xué)習(xí)就比較難了,需要不斷的學(xué)習(xí)及實(shí)踐方可,如果再想進(jìn)步,做為專業(yè)的三坐標(biāo)測(cè)量員,那么需要經(jīng)過(guò)系統(tǒng)的培訓(xùn)及實(shí)踐方可。下圖為我司三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,供學(xué)習(xí)三坐標(biāo)的學(xué)員參考
殘余應(yīng)力儀原理是什么?1、X射線衍射法測(cè)量殘余應(yīng)力的原理:基于著名的布拉格方程2dsinθ=nλ :即一定波長(zhǎng)的X射線照射到晶體材料上,相鄰兩個(gè)原子面衍射時(shí)的X射線光程差正好是波長(zhǎng)的整數(shù)倍。通過(guò)測(cè)量衍射角變化Δθ從而得到晶格間距變化Δd,根據(jù)胡克定律和彈性力學(xué)原理,計(jì)算出材料的殘余應(yīng)力。2、盲孔法測(cè)量殘余應(yīng)力的原理:假設(shè)一個(gè)各向同性材料上某一區(qū)域內(nèi)存在一般狀態(tài)的殘余應(yīng)力場(chǎng),其較大、較小主應(yīng)力分別為
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