詞條
詞條說(shuō)明
2022深圳中國(guó)光電博覽會(huì)(CIOE2022)-與您相約
*24屆中國(guó)**光電博覽會(huì)(CIOE2022)將于2022年9月7日至9日在深圳**會(huì)展中心舉行,同期包括光通信展、激光技術(shù)及智能制造展、紅外技術(shù)及應(yīng)用展、精密光學(xué)&鏡頭及攝像模組展、光電傳感展等,24萬(wàn)㎡展示面積,同期6展吸引**3000家參展企業(yè)及95,000名專業(yè)觀眾。掌握行業(yè)動(dòng)向、洞察市場(chǎng)發(fā)展趨勢(shì)、助力企業(yè)與光電行業(yè)上下游進(jìn)行商貿(mào)洽談,達(dá)成商業(yè)合作。為尋求發(fā)展合作,探討光電產(chǎn)業(yè)發(fā)展市
冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試
芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開(kāi)關(guān)特性以及開(kāi)關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生
環(huán)境試驗(yàn)中凝露問(wèn)題淺析 1 前言 環(huán)境試驗(yàn)做為檢驗(yàn)提高電子產(chǎn)品可靠性的一種常用手段,廣泛用于電子產(chǎn)品的各個(gè)研發(fā)周期。用于確 定通訊設(shè)備對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性。在環(huán)境試驗(yàn)過(guò)程中根據(jù)產(chǎn)品的特性,選擇合適的試驗(yàn)方法,對(duì)產(chǎn)品的機(jī)械性 能、電氣性能、物理性能、材料的抗拉強(qiáng)度和抗張力變化、絕緣性能等作出檢驗(yàn)和評(píng)估。只有選擇正確的 試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)條件下,才能得出正確的試驗(yàn)結(jié)果。在恒定濕熱過(guò)程中,要預(yù)熱產(chǎn)品,避免大
高低溫濕熱測(cè)試箱/高低溫恒定濕熱測(cè)試箱/高低溫交變濕熱測(cè)試箱
高低溫濕熱測(cè)試箱/高低溫恒定濕熱測(cè)試箱/高低溫交變濕熱測(cè)試箱 SDJ系列簡(jiǎn)介:本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品(整機(jī))、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗(yàn),以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn),其散熱功率不能**過(guò)試驗(yàn)箱制冷量,因制冷量為動(dòng)態(tài)值,其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化,同時(shí),較高濕度也會(huì)因散熱產(chǎn)品帶來(lái)熱量須冷卻平衡時(shí)引起凝露而受到影響。
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