淺談環(huán)境與可靠性試驗設(shè)備的使用與維護(hù)

時間：2016-11-16作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：136

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 冷熱沖擊試驗箱可用于半導(dǎo)體芯片的測試

  芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過高時元器件體積發(fā)生

• 包裝盒高低溫測試biao準(zhǔn)

  包裝盒被用來對各種類型的產(chǎn)品進(jìn)行包裝，按照客戶的不同，它可以被劃分為兩種類型，一種是外銷彩盒，另一種是內(nèi)銷彩盒，在高低溫環(huán)境下，對其進(jìn)行測試，要求比較嚴(yán)格的一般是外銷彩盒，因為在外銷彩盒在成品完成之后，一般會以海運貨柜的方式，將其運送至*客戶的工廠進(jìn)行包裝。船運期間貨柜內(nèi)溫濕度變化范圍非常大;包裝成品又需要通過這種運輸途徑分發(fā)到各地銷售，為**包裝不出異常通常會在包裝成品完成后進(jìn)行高低溫循環(huán)測試

• 高低溫沖擊試驗箱碰到少水狀況要如何處理

  當(dāng)高低溫沖擊試驗箱長時間性應(yīng)用時。設(shè)備有少水警報、過壓警報和負(fù)載警報。這種難題并不是由機(jī)器設(shè)備常見故障造成的。能夠根據(jù)校準(zhǔn)等有關(guān)手動式實際操作來處理,因而,客戶無須擔(dān)憂過多。這類方式簡易*,它是不容易危害試驗的,殊不知,在應(yīng)用設(shè)備時,個人工作室的右上方也會出現(xiàn)水珠,這個問題對檢測有非常大的危害,因此客戶應(yīng)當(dāng)需注意防范措施,那我們要如何處理呢? 高低溫沖擊試驗箱碰到少水狀況要如何處理1、開啟右上方

• 車載屏幕高低溫試驗測試條件及標(biāo)準(zhǔn)

  一、高溫試驗高溫試驗是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2、IEC 、IEIA 364、MIL-STD-810F等。?二、低溫試驗低溫試驗是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。參考的測試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1、