恒溫恒濕試驗(yàn)箱六大框架結(jié)構(gòu)及操作原理

時(shí)間：2016-11-16作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：162

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• UN38.3認(rèn)證鋰電池生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)要求

  項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方法驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)溫度循環(huán)UN38.3在75±2℃下至少存放6h，然后在試驗(yàn)溫度-40±2℃下至少存放6h。兩個(gè)較端測(cè)試溫度之間的zui大時(shí)間間隔為 30 分鐘。這個(gè)過(guò)程必須重復(fù) 10 次。所有測(cè)試電池和電池組均在 20±5 ℃ 的環(huán)境溫度下存放 24 小時(shí)。不失重、不滲漏、不排氣、不崩解、不裂解、不燃燒。并且試驗(yàn)后每個(gè)充滿電的試驗(yàn)電池或電池組的開(kāi)路電壓不**試驗(yàn)前電壓的9O%。IEC621

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門(mén)用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè)：1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：85℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件：-40℃～85℃持續(xù)時(shí)間：200

• 平板電腦可靠度測(cè)試

  平板電腦是一個(gè)具有強(qiáng)大功能的電子產(chǎn)品，隨處可見(jiàn)它的蹤影，但是平板電腦在攜帶使用時(shí)只有簡(jiǎn)易外套保護(hù)或甚至沒(méi)有，而且在移動(dòng)的過(guò)程當(dāng)中也會(huì)經(jīng)歷到許多環(huán)境物理量的變化(如溫度、濕度、沖擊等)以及自然破壞(如紫外線、太陽(yáng)光、鹽霧等)，也會(huì)造成人為的非故意傷害或不正常當(dāng)機(jī)及誤動(dòng)作，甚至造成故障與破壞，這些都會(huì)縮短平板電腦的壽命。為了確保產(chǎn)品可靠度以及延長(zhǎng)使用壽命，我們必須對(duì)平板電腦進(jìn)行多項(xiàng)環(huán)境可靠度試驗(yàn)項(xiàng)目。

• 高低溫濕熱測(cè)試箱/高低溫恒定濕熱測(cè)試箱/高低溫交變濕熱測(cè)試箱

  高低溫濕熱測(cè)試箱/高低溫恒定濕熱測(cè)試箱/高低溫交變濕熱測(cè)試箱 SDJ系列簡(jiǎn)介：本試驗(yàn)箱適用于對(duì)產(chǎn)品（整機(jī)）、零部件、材料進(jìn)行高溫、低溫、高低溫循環(huán)試驗(yàn)，以及恒定濕熱和交變濕熱試驗(yàn)。本試驗(yàn)箱可用于散熱試驗(yàn)樣品和非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)。對(duì)于散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)，其散熱功率不能**過(guò)試驗(yàn)箱制冷量，因制冷量為動(dòng)態(tài)值，其隨溫度點(diǎn)變化而有所變化，同時(shí)，較高濕度也會(huì)因散熱產(chǎn)品帶來(lái)熱量須冷卻平衡時(shí)引起凝露而受到影響。