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詞條說明
光學(xué)薄膜是大塊材料經(jīng)過固相——液相——?dú)庀唷滔嗷蚬滔唷獨(dú)庀唷滔噢D(zhuǎn)化后在基板上凝聚而成的,因而它的微觀結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)以及薄膜成分都會(huì)與原始?jí)K狀材料不同。 絕大多數(shù)金屬幾乎都是以原子形式蒸發(fā)的,但是對(duì)于一些半導(dǎo)體和半金屬,它們多是以2個(gè)或2個(gè)以上的原子集合體逸出的。因?yàn)镾b的4個(gè)原子幾乎是以相似的共價(jià)鍵相結(jié)合,故Sb膜中主要含Sb4,同時(shí)混入Sb2和少量Sb。As多為As4和As2,Bi和
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關(guān)于光學(xué)表面光法度劃痕、麻點(diǎn)的解析: 1. 劃痕 1.1 依據(jù)美**MIL-0-13830將劃痕單位定為:1/1000mm,如:40#劃痕寬度為 40*(1/1000mm)=0.04mm。 1.2 當(dāng)元件上的劃痕級(jí)數(shù)**過表面質(zhì)量要求的劃痕 線偏振鏡和圓偏振鏡的區(qū)別: 偏振鏡有兩種。一種是線偏振鏡,又稱普通偏振鏡,英文標(biāo)志為PL;另一種是圓偏振鏡,英文標(biāo)志 為CPL。 CPL的外觀呈灰色,是由一片
鍍膜的環(huán)境試驗(yàn) 一般情況下,薄膜制備工藝決定了薄膜都具有柱狀的微結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)使薄膜內(nèi)部存在一定空隙,并造成薄膜器件光學(xué)特性和機(jī)械特性的不穩(wěn)定,因此對(duì)某些在特殊環(huán)境下使用的薄膜必須進(jìn)行各種環(huán)境試驗(yàn)。 1.恒溫恒濕試驗(yàn)。它是較常規(guī)的環(huán)境試驗(yàn)。一般在相對(duì)濕度95%,溫度為55度的環(huán)境下存放6-24小時(shí);或在40度以下存放10天;或在室溫至80度的環(huán)境下做多次循環(huán)試驗(yàn),然后檢測薄膜樣品在試驗(yàn)前后的膜層的
擴(kuò)束鏡是能夠改變激光光束直徑和發(fā)散角的透鏡組件。從激光器發(fā)出的激光束具有一定的發(fā)散角,對(duì)于激光加工來說,只有通過擴(kuò)束鏡的調(diào)節(jié)使激光光束變?yōu)闇?zhǔn)直(平行)光束,才能利用聚焦鏡獲得細(xì)小的高功率密度光斑;在激光測距中,必須通過擴(kuò)束鏡較大限度地改善激光的準(zhǔn)直度才能得到理想的遠(yuǎn)距離測量效果;通過擴(kuò)束鏡能改變光束直徑以便用于不同的光學(xué)儀器設(shè)備;擴(kuò)束鏡配合空間濾光片使用則可以使非對(duì)稱光束分布變?yōu)閷?duì)稱分布,并使光
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