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詞條說明
感應(yīng)加熱技術(shù)應(yīng)用于鍛件加熱的優(yōu)越性
目前傳統(tǒng)的鍛件加熱爐有天然氣加熱爐,燃煤爐等,他們的熱氧化損耗率較高,天然氣加熱的氧化燒損率為2%,燃煤爐氧化燒損率達(dá)到3%,如此高的燒損率勢必造成原材料的浪費(fèi)。 隨著社會(huì)的發(fā)展和人們環(huán)保節(jié)能意識(shí)的提高,天然氣爐等傳統(tǒng)加熱設(shè)備逐漸暴露出了各方面的缺陷與不足:**在開始加熱鍛件之前,**先對(duì)爐子進(jìn)行預(yù)加熱因此要消耗根本不需要的能源,增加了鍛件成本,另外大規(guī)模鍛件生產(chǎn)必然會(huì)選用容量較大的加熱爐,設(shè)備
感應(yīng)加熱系統(tǒng)熱處理的生產(chǎn)過程分析
近代的物理冶金理論幾乎可以洞悉金屬在熱處理過程中的組織、性能、化學(xué)成分,甚至原子狀態(tài)的瞬息變化,從而可以利用靈敏的傳感控制系統(tǒng)對(duì)熱處理產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行在線控制,從而達(dá)到高質(zhì)量高要求的合格率。在感應(yīng)加熱設(shè)備上**生產(chǎn)條件,如爐溫均勻度、加熱和冷卻速度以及工件材料化學(xué)成分和淬透性帶的范圍等就可以實(shí)現(xiàn)在不同爐次、同一爐次不同部位產(chǎn)品質(zhì)量的同一性和再現(xiàn)性,使產(chǎn)品的組織性能、畸變等質(zhì)量的分散度達(dá)到趨于零的程度
可控硅好壞的判斷 A 測量門較(GK)電阻,該阻值一般在8---50 B 測量陰陽極(AK)電阻,開路測量應(yīng)該為,在路測量一般在K--- 注:在路或開路用萬用表正反測在中頻電源線路中,該測試方法只能簡單判斷可控硅的好壞因可控硅的大小及用途不同,該測試方法可能不適用其它設(shè)備或元件 1 OP(缺相)燈亮 原因: A 主回路空開沒有合 B 主回路熔斷器損壞 C整流可控硅陰極( K )線開路 2 WPL
可控硅是中頻電源的**,它的準(zhǔn)確使用對(duì)設(shè)施的運(yùn)行至關(guān)重要。一臺(tái)設(shè)施一年損壞三五只可控硅尚屬正常,如果經(jīng)常燒硅,電爐停擺,影響出產(chǎn),就要引起警覺了??煽毓璧墓ぷ麟娏鲝膸装侔驳綆浊О玻妷和ǔT谝粌汕Х?,良好的主控板保護(hù)和良好的水冷條件是*的。 可控硅的**負(fù)荷特性:可控硅的損壞稱為擊穿。在正常的水冷條件下,電流**負(fù)荷能力可達(dá)110%以上;無電壓**負(fù)荷能力,就是說,硅在**壓情況下,是肯定損壞的。再考
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