詞條
詞條說(shuō)明
超聲檢測(cè):工作頻率范圍:1~5/ 0.5~15/3~16MHz三檔 檢波方式:正/負(fù)向、雙向和RF 探頭零點(diǎn):0~200us 阻尼: 50,500 Ω 垂直線性誤差:≤ 3% 測(cè)量分辨率:0.03mm 材料聲速:1000~9999m/s 抑制:0~80%,線性抑制 探傷靈敏度余量:≥ 64dB 增益調(diào)節(jié):0~110dB,分0.5/2/6dB步進(jìn) 探測(cè)范圍:0~10000mm(鋼縱波)連續(xù)可調(diào),較
一、儀器簡(jiǎn)介CCD+全譜火花直讀光譜儀是一臺(tái)方便使用和高精度的儀器。由于結(jié)構(gòu)緊湊體積小巧、性能高Solaris CCD Plus可以安放在辦公室、實(shí)驗(yàn)室、倉(cāng)庫(kù)、生產(chǎn)線等任何工作場(chǎng)所。Solaris CCD Plus可以有不同的配置,用于分析不同種類(lèi)的黑色和有色金屬及合金。 二、主要特點(diǎn)1、采用CCD檢測(cè)器,可實(shí)現(xiàn)全譜分析,能夠滿(mǎn)足多基體分析要求,在元素選擇上具有充分的靈活性;2、儀器采用500m
性能參數(shù) 鍵 盤(pán):12鍵按鍵 測(cè)量范圍:界面波-底波(P-E)方式: 0.63-508mm 帶自動(dòng)溫度補(bǔ)償?shù)慕缑娌?底波(PETP)方式: 0.63-508mm 多層測(cè)量(PECT)方式: 0.63-508mm(基體) 0.01-2.54mm(表面涂層) 穿透涂層測(cè)量(E-E)模式: 2.54-—102mm(因涂層的不同會(huì)有所變化) 僅測(cè)量涂層(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂層的
產(chǎn)品參數(shù): ◆滿(mǎn)量程檢測(cè)精度:+ 10% ◆顯示精度:THT 1mg/m3 TBM 0.0mg/m3 ◆防爆標(biāo)準(zhǔn):歐洲CENELEC標(biāo)準(zhǔn)ATEX 100,94/9EC指南。 ◆檢驗(yàn)機(jī)構(gòu):德國(guó)國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局(TUV),漢諾威。 ◆證書(shū)號(hào):TUV 01 ATEX1657 ◆批準(zhǔn)號(hào):II 2G EEx ib d IIB T3 IIC帶皮包 ◆工作時(shí)間/ 電源供應(yīng):擴(kuò)散50 小時(shí);泵吸20 小時(shí)/3 節(jié)
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