X射線熒光光譜儀是什么？

時(shí)間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：458

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• 詞條

  詞條說明

• 手持XRF分析儀

  手持XRF分析儀是元素快速分析的好幫手，滿足合金，礦石，土壤重金屬，rohs，鍍層等各個(gè)領(lǐng)域的便攜測(cè)試分析，連接便攜藍(lán)牙打印設(shè)備，可以現(xiàn)場(chǎng)出具測(cè)試報(bào)告。手持XRF分析儀光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)超大樣品測(cè)試當(dāng)樣品體積太大，且不能切割取樣時(shí)，普通臺(tái)式儀器無法對(duì)其進(jìn)行RoHS等有害元素的有效測(cè)試，此時(shí)手持XRF分析儀則可大顯神通，直接對(duì)其表面進(jìn)行測(cè)試，使用更方便快捷，大大提高了檢測(cè)效率。玩具樣品測(cè)試玩其樣品多

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對(duì)能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長(zhǎng)分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，就會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí)，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會(huì)被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子

• X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點(diǎn)

  X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時(shí)受基體的影響小，在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計(jì)。?指標(biāo)信息1、發(fā)射源是Rh靶X光管，最大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca