x射線鍍層測厚儀在檢測時具有什么原理？

時間：2022-06-11

作者：蘇州實譜儀器有限公司

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詳細解析x熒光鍍層測厚儀的應用和性能
? x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分和濃度測定。? ? ? x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號
x射線鍍層測厚儀在檢測時具有什么原理？
? ? ?x射線鍍層測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產品化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測厚儀的主要測量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中**種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多
X光鍍層測厚儀詳細分析功能說明
? ? ?X光鍍層測厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；? ? ?鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.? ? ?鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,*購買標準藥液.? ? ?
X光鍍層測厚儀使用性能特點有哪些？
? ? ? X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。 X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的