x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：238

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• 詞條

  詞條說明

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測定。? ? ? x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號(hào)

• x熒光鍍層測厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢

  ? ? ? ?x熒光鍍層測厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W

• X光鍍層測厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？

  ? ? ? X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號(hào)來得到待測元素的特征信息。 X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的

• 有關(guān)x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，以下有詳細(xì)解說

  ? ? ? x射線鍍層測厚儀采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計(jì)、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示，具備機(jī)型小巧、操作簡捷、待機(jī)時(shí)間長等特點(diǎn)；且具有自動(dòng)關(guān)機(jī)、欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能。它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成如下： 1、